II. ročník
Bylo probráno EM - teorie
Vnejší vlivy na měřicí přístroje
Elektromechanické měřicí systémy
Magnetoelektrický systém
Elektromagnetický systém
Chyby elektromechanických přístrojů
R normály
Rozdělení chyb měření
Výpočet chyb z T, M
Systematické a náhodné chyby
Metrologie
DMM
B202 R dělič naprázdno
B202 zapojení odporů
III. ročník
Bude měřeno od 1. 9. 2026
N.V. 194/2022
Ověření laboratorního stolu B 202
EOL, DEOL MS, RC články - jednotkový skok
Zatížený a nezatížený napěťový dělíč, MultiSIM
LabView seznámení a příklady
Převodník I-U
Převodník R-U
Relativní chyba, absolutní chyba + chyby měření
Proudové sondy, počet závitů cívky
Měření V-A charakteristiky diod
Ověření LZ B202 naprázdno
Ověření LZ B202 se zátěží
EZS EOL, DEOL
Děliče napětí zatížené a nezatížené 3x OPK
Paralelní OPK, měření I
Měření vzduchové cívky V,A
Měření cívky s jádrem 3A
Měření klešťovým multimetrem, počet závitů cívek, LCR měřič
Meření cívky s jádrem 3V
Ověření počtu závitů 3 cívky, F205
Měření výkonů P, Q S, PF, kompenzace
Měření DSO VA charakteristiky Si, Ge, LED a Zenerovy diody